在現代射頻與微波測試領域，多端口矢量網絡分析儀（VNA）是評估器件性能的核心工具。然而，在實際測試中，測試夾具、連接電纜乃至探針等附加結構往往會引入額外的電氣特性，干擾待測件（DUT）的真實響應。為了剝離這些“干擾項"，獲得純凈的測量數據，去嵌入（De-embedding）技術顯得尤為重要。本文將聚焦于一種高效且廣泛應用的去嵌入方法——自動夾具移除（AFR），解析其在多端口VNA中的具體操作流程。

去嵌入的核心目標是將測試系統中非待測部分的電氣影響從最終結果中剔除。對于多端口器件而言，這一過程需要很高的精度與算法支持。AFR技術通過測量一個已知的標準夾具（如“2倍直通"標準件），利用數學算法反推出夾具的S參數，并將其從總測量結果中扣除，從而還原出待測件的真實特性。

進行AFR處理前，充分的準備工作是確保結果準確的前提。首先，需使用電子校準件（Ecal）對矢量網絡分析儀進行嚴格的端口校準。通過執行“2 Port ECal"校準流程，可以消除測試電纜和連接器帶來的系統誤差，建立一個精準的測量參考平面。這一步至關重要，因為后續所有的去嵌入操作都建立在這個校準基礎之上。

準備工作就緒后，便可啟動AFR向導。在VNA的操作界面中，通?？赏ㄟ^“Cal > Fixtures > Automatic Fixture Removal Wizard"路徑調出該功能。隨后，將“2倍直通標準夾具"連接至校準后的測試端口，這一夾具的電氣特性將作為算法的基準。

進入AFR向導界面后，操作主要分為四個關鍵步驟。第一步是定義測試類型，根據實際情況選擇“單端"或“差分"，并指定端口數量，系統通常會提供默認的推薦設置。第二步是定義標準件，選擇“直通（Thru）"類型，并在高級設置中確認其物理長度等參數，若標準夾具與實際測試夾具的直通部分長度一致，通?？杀３帜J值。第三步是測量與保存，點擊“Measure"按鈕，VNA將自動采集標準夾具的S參數數據。為了提高后續測試的效率，建議將此次測量結果保存為.s2p文件，以便未來直接加載調用，無需重復物理測量。最后一步是應用校正，確認VNA端口與待去嵌入夾具的對應關系無誤后，點擊“Apply Correction"。此時，儀器內部算法會將標準夾具的S參數分解并分別應用到Port1和Port2上，實現夾具的“虛擬移除"，最終的測試結果即為剔除了夾具影響的純凈數據。

通過上述流程，多端口矢量網絡分析儀能夠有效實現去嵌入處理，顯著提升測量的準確性與可靠性。

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